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STZ400H半导体四探针测试仪

点击次数:56发布时间:2014/7/14 16:11:05

STZ400H半导体四探针测试仪

更新日期:2022/9/27 8:24:04

所 在 地:中国大陆

产品型号:STZ400H

简单介绍:STZ400H型半导体四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置,它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量,可以从10-4--106Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻,是硅材料质量监测的必需仪器。仪器为台式结构,分为电气箱、测试架两大部分,用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者专用

优质供应

详细内容

 主要技术指标:

1测量范围:10-4---106Ω -CM 分辨率 10-6。

2数字电压表量程和电流输出档位:

a电压表量程2 mV、20 mV、200 mV、2V

b电流输出档位: 1uA,10uA,100uA,1mA,10mA,100mA,

3测试(显示电压)精度及稳定度:

a使用电压量程20mV—2V及使用10uA—100mA电流输出档时 :

±(0.2%读数+6字)  

b使用电压量程2mV档及使用1uA电流输出档时:

±(0.5%读数+8字)

c显示:4½位数字显示0—19999及相应单位显示,测试电压的分辨力为

   0.1uV。

4  电源:220±10%   50HZ或60HZ 功率消耗<50W

5外形尺寸:365mm*345mm*110mm

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联系人:邹军辉

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:生产商
  • 注册资金:人民币万

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